爱德万测试(Advantest)与中芯长电半导体有限公司(中芯长电)正式签订大量采购合约。中芯长电将自爱德万测试购入大量的记忆体测试系统T5830，用於测试串列周边介面(SPI) NOR快闪记忆体装置，而在有机发光二极体(OLED)与触控面板感应晶片(TDDI)迅速成长的带动下，SPI NOR快闪记忆体装置需求持续走强。

中芯长电半导体执行长崔东表示：「中芯长电对於与爱德万测试签订策略性合约感到非常高兴，并期许在业务范围拓及持续成长的记忆体市场以及研发更复杂的3D IC之际，持续维持双方公司之间的合作关系。」

中芯长电过去就曾安装爱德万测试测试系统V9300以测试高速数位与精度类比IC。而此次是中芯长电首次向爱德万测试购买记忆体测试系统。

爱德万测试总裁兼执行长Yoshiaki Yoshida表示：「中国的人囗与人均收入不断增加，带动NOR快闪记忆体产业成长。企业基础建设发展日趋成熟，以及包含中芯长电在内的产业主要叁与者规模不断扩大，成为带动市场成长的助力。」

於2016年推出的T5830记忆体测试机功能一应俱全，能为广泛用於行动电子装置的各式快闪记忆体低，提供最隹化的低成本大量测试能力。T5830系统能执行晶圆测试并为低脚位到高脚位IC提供最终测试，可为客户创造可观的投资回报(ROI)并降低他们的财务风险。

T5830系统采用爱德万测试独特的Tester-per-Site架构，因此每个Site都能独立运作，有助加快测试时间并降低测试成本。此系统亦包含具可扩展性的内建大电流可编程电源(PPS)。

T5830系统资料传输速度最快可达800 Mbps，并能在配置4个数位脚位情况下，同时测试多达2,304个装置。除了测试NOR快闪装置，T5830系统也支援NAND快闪装置、智慧卡、单列直??式记忆体(SIM)、电子抹除式可复写唯读记忆体(EEPROM)以及其他嵌入式快闪记忆体。

T5830系统适用生产及工程开发，可用於认证测试或大量生产，且可完全相容於T5800系列产品，强化其可靠性以及模组可升级性。