Mentor Graphics于日前表示，智原科技（Faraday）已决定采用Mentor Graphics的可测试设计（DFT）工具，并将它用于智原的系统单芯片设计流程；Mentor拥有已通过实际考验的可测试性设计技术，并能协助客户提高生产力、改善测试质量和降低测试成本。智原是已通过硅晶实证的硅智财组件主要供货商，也提供系统单芯片设计服务。智原认为今日的系统单芯片设计需要多套设计解决方案，才能确保这些组件获得完整彻底的测试。

Mentor Graphics表示，该公司所提供的可测试性设计工具，可用来测试复杂的系统单芯片设计，这些工具拥有很高的错误涵盖率和应用弹性，可加入任何设计流程。智原将利用FastScan工具执行自动测试图样产生，MBISTArchitect执行内存内建自我测试；为使测试流程更完整，智原还将使用BSDArchitect实作自动边界扫瞄功能，DFTAdvisor执行扫瞄合成和可测试性分析，并使用DFTInsight工具执行图形导向的可测试性设计除错与分析。

智原ASIC技术副总裁黄奇邑博士表示，「智原的发展时程非常紧迫，可用带宽却相当有限；Mentor为智原提供所须的可测试设计工具，使其能在最短时间内，为系统单芯片设计产生非常高质量的测试。」MBISTArchitect工具提供完整的内存内建自我测试功能，不但节省芯片面积，达成极高的错误涵盖率，还能将测试时间减至最少；智原可从一组事先定义的业界标准算法中选择，例如March C和Checkerboard，或是选择工具本身提供的MBIST Flex用户定义算法，利用它们的弹性测试图样能力执行全速（at-speed）测试，藉以找出与技术有关的各种错误。MBIST Full-Speed是一种采用管线执行技术（pipelining）的全速内建自我测试功能，可大幅减少测试应用时间；此外，这套工具还提供完整的组态设定能力，让测试数据的重复使用更方便。