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安捷伦将于LTE Americas 2009展示LTE测试方案
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2009年11月16日 星期一

浏览人次:【2179】

安捷伦科技(Agilent)日前宣布,将于11月4-5日在德州达拉斯举办的LTE Americas 2009会议中,展示旗下最新的LTE测试解决方案。展出内容包括协议和装置验证测试、路测、信号分析仪、以及频谱分析/天馈线测试用的安装与维护工具。

台湾安捷伦科技电子量测事业群总经理张志铭表示,为确保LTE的成功布建,安捷伦科技已在市场上推出了好几款LTE测试产品。真的很高兴能够参与这次的盛会。

LTE Americas是3GPP和Informa共同举办的活动,邀请业界的LTE专家齐聚一堂,讨论开发与建置LTE的重要相关议题。安捷伦与其事业伙伴携手合作,针对从开发初期到生产测试与建置的整个UE LTE和eNB生命周期,提供各种适合的解决方案。

安捷伦的新书《LTE和4G无线技术的演进 - 设计与量测挑战》(“LTE and the Evolution to 4G Wireless Design and Measurement Challenges”)已经出炉。请按此处,以了解这本介绍产业资源的书籍。

關鍵字: LTE  安捷伦 
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