账号:
密码:
最新动态
产业快讯
CTIMES/SmartAuto / 新闻 /
ST创新制造测试解决方案荣获2010芝麻奖
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2010年12月21日 星期二

浏览人次:【2122】

意法半导体(ST)于日前宣布,其超高频电子卷标与集成电路磁耦合(UTAMCIC)项目,已荣获拥有全球数字安全产业「奥斯卡奖」之称的「芝麻奖」(Sesames Award)。

意法半导体UTAMCIC项目团队(Alberto_Pagani&Giovanni_Girlando)于2010年国际智能卡暨身份识别技术工业展获颁2010年_芝麻奖
意法半导体UTAMCIC项目团队(Alberto_Pagani&Giovanni_Girlando)于2010年国际智能卡暨身份识别技术工业展获颁2010年_芝麻奖

ST表示,UTAMCIC项目是应用范围相当广泛、已经概念性验证的半导体制造研发展示解决方案。这款解决方案实现单金属层超高频天线,在软性塑料上与集成电路磁耦合,可透过无线方式测试芯片的功能性,进而提高智能卡的生产效率和产品质量。

「芝麻奖」是年度国际智能卡暨身份识别技术工业展(CARTES & Identification)的重要一环,代表了业界对获奖者在智能卡创新方面至高无上的肯定,被智能卡生产商和相关企业视为全球标准。「芝麻奖」的评审委员由国际智能卡和身份识别产业的知名专家担任,从395项参赛项目中选出10个优胜奖项。

UTAMCIC项目团队包括意法半导体的Alberto Pagani、Giovanni Girlando和Alessandro Finocchiaro以及意大利卡塔尼亚大学(University of Catania)的Giuseppe Palmisano教授。UTAMCIC项目团队于上周在巴黎举办的2010年国际智能卡暨身份识别技术工业展获颁2010年 芝麻奖。

意法半导体的UTAMCIC项目团队表示,ST对UTAMCIC项目获颁芝麻奖感到十分荣幸,这个奖项不仅代表对意法半导体在提供可靠且具成本效益的测试解决方案的承诺的认可。也是对ST在不断改进制造和测试技术及为客户提供更高质量的服务所付出的努力的认可和表彰。

關鍵字: ST 
相关新闻
ST推广智慧感测器与碳化矽发展 强化於AI与能源应用价值
ST:AI两大挑战在於耗能及部署便利性 两者直接影响AI普及速度
意法半导体公布第三季财报 工业市场持续疲软影响销售预期
意法半导体STM32C0系列高效能微控制器性能大幅提升
意法半导体为电动车牵引变频器打造新一代碳化矽功率技术
comments powered by Disqus
相关讨论
  相关文章
» 创新光科技提升汽车外饰灯照明度
» 以模拟工具提高氢生产燃料电池使用率
» 掌握石墨回收与替代 化解电池断链危机
» SiC MOSFET:意法半导体克服产业挑战的颠覆性技术
» 超越MEMS迎接真正挑战 意法半导体的边缘AI永续发展策略


刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BQ79D45MSTACUK3
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw