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爱德万测试推出Wave Scale MX Channel Card
因应高解析度转换器、消费性音频IC与物联网装置测试需求

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2017年06月23日 星期五

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半导体测试设备供应商爱德万测试为Wave Scale MX产品系列增添生力军,推出高解析度、高精确度的混合讯号通道卡,扩大该系列於测试类比数位与数位类比波形转换器的范畴。全新高解析度Wave Scale MX卡具备高平行测试能力与最隹化交流与直流效能。藉由这些特性,爱德万测试V93000测试平台在测试类比数位波形转换器时,得以满足越来越严格的低失真,精确度和线性度需求,同时也有助缩减消费性音频与物联网装置的测试成本及上市时间。

新通道卡提高既有V93000平台的高平行度及大量多元件同测能力。
新通道卡提高既有V93000平台的高平行度及大量多元件同测能力。

爱德万测试产品事业资深??总裁Hans-Juergen Wagner表示:「爱德万测试最新高解析度Wave Scale MX卡拥有最高的通道数量与密度,能支援更广的讯号范围,也使音频组件具备更高的输出功率。」

该通道卡能为单端或差分讯号提供多达32组高效能与完全独立的交流与直流量测的能力,其中包括16组任意波形产生器(AWG)与16组的数位转化器。该通道卡具备区域温度控制的机制,确保直流量测维持最高稳定度,且单端讯号可叁照各通道的接地感应线,以达到最完美的信号保真度。而且每个脚位均有一组叁数测量单元(PMU),可执行极精准的直流量测。

此外,该通道卡支援单端讯号的振幅范围最高达20 Vpp,差分讯号则可达40 Vpp。所有功能皆由Testprocessor软体控制以达最大化的产出与量测重复性。

Wave Scale MX无资源共享的创新架构能在32组工具上有截然不同的设定且进行同步测试,除能满足元件内部平行度的需求外进而能达到极高多元件同测效率,大幅降低复杂混合讯号的测试成本。爱德万测试除了推出具备独家高解析度资源的通道卡,也推出兼具高解析度与高速功能的Wave Scale MX混合卡。

爱德万测试即日起受理高解析度与混合式Wave Scale MX卡的订单。

關鍵字: 半导体测试设备  爱德万测试  Advantest  半导体制造与测试  零件測試儀器 
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