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NS在 DesignCon 2001展示高速低电压差动讯号传输芯片
具更强劲效能、更高度整合的技术、创新的封装设计以及片上测试能力

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2001年01月31日 星期三

浏览人次:【4750】

越来越多主板接口及数字系统采用更高带宽、更快传输率以及更低功率消耗的设计。有鉴于此,美国国家半导体 (NS)于DesignCon 2001 展览会上推出一系列全新的高速低电压差动讯号传输 (LVDS) 芯片,以满足这方面的需求。美国国家半导体最新推出的 LVDS 系列产品不但效能更卓越、整合度更高以及封装设计更为精巧,而且更具备片上测试的功能,适用于电讯和数据通讯系统、移动电话基地台及上网设备。LVDS 技术适用于主板线路较为密集的高速、低功率应用方案,可支持这些系统进行点对点及一点对多点的数据传输。

美国国家半导体在展览会上展出多款产品,其中包括可支持 IEEE 1149.1 JTAG (联合测试行动组织) 标准、并可进入芯片边界进行扫描测试的 LVDS 芯片系列的首款产品。由于厂商可以利用边界扫描技术直入芯片的四周边界进行测试,因此可扩大故障侦测范围,加强结构及互连测试的能力。IEEE 1149.1 标准对连接每一芯片的标准测试进出埠的 4 线数字接口均有特别的规定。

關鍵字: 美国国家半导体 
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