账号:
密码:
最新动态
产业快讯
CTIMES/SmartAuto / 新闻 /
芯测科技START获法国4G LTE晶片制造商采用於高阶LTE晶片
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2019年12月24日 星期二

浏览人次:【3767】

法国IC设计公司Sequans Communications S.A.与耕於开发记忆体测试与修复技术的芯测科技(iSTART-Tek;iSTART)合作,采用芯测科技START-记忆体测试与修复整合性电路开发环境开发高阶LTE晶片内的记忆体测试与修复电路。

由於高阶LTE晶片需要处理的资料量大,所以记忆体的使用量也日增月益,采用芯测科技的START可确保资料储存的正确性,进而提升晶片品质,并可协助客户提高设计效率和产品的可靠度。

「法商Sequans是首家与芯测科技以商务合作方式使用芯测START工具的客户,经由双方的合作将工具达到完美自动化的实现与验证。」客户销售部协理李玉如表示, 「这也是双方在成本与效益上的最隹落实。」

START提供多样化的测试演算法以及弹性化的修复功能,其中客制化记忆体修复设计满足客户在低功耗上的需求,以及运用『Bottom-Up Flow』协助客户快速产生记忆体测试电路,在实作时帮助客户缩短晶片tape out的时间,进而提升产品的可靠度与晶片品质,并可协助客户提高设计效率。芯测科技将持续提供更好的记忆体测试和修复解决方案与专业的技术支援服务。

關鍵字: 记忆体测试  芯测科技 
相关新闻
迈入70周年爱德万测试Facing the future together!
爱德万测试出货第一万套V93000 SoC测试系统新里程
爱德万测试收购兴普科技 持续开拓测试与量测解决方案
芯测科技供车用晶片记忆体测试专用演算法
实现AI的晶片 厚翼记忆体测试电路开发环境BRAINS
comments powered by Disqus
相关讨论
  相关文章
» 创新光科技提升汽车外饰灯照明度
» 以模拟工具提高氢生产燃料电池使用率
» 掌握石墨回收与替代 化解电池断链危机
» SiC MOSFET:意法半导体克服产业挑战的颠覆性技术
» 超越MEMS迎接真正挑战 意法半导体的边缘AI永续发展策略


刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BQ9PYO08STACUK6
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw