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第五届日本封装测试技术展 1月底东京登场
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2003年12月30日 星期二

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工商时报报导,第五届日本半导体封装测试技术展(ICP)将在2004年1月底于日本东京举行,此次封测展与以往不同处,在于参展厂商不再只有日本本国半导体业者,国外封测大厂艾克尔(Amkor)、京元电都将参展,并介绍最新技术。

由于整合组件制造厂(IDM)在2003年陆续释出封测订单予封测代工厂,且封测厂营收占全球封测市场比重也可望在2003年达到四成,主办单位特别开辟封装测试代工厂专区,吸引艾克尔及京元电参展。

该报导指出,此次日本封测展也将对2004年技术趋势发表数篇论文与研究报告,日本东芝、瑞萨(Renesas)、摩托罗拉等IDM大厂皆是预定的主讲厂商,将共同对未来几年封装测试市场技术及主流制程发展趋势提出看法。

根据主办单位所公布议程,2004年覆晶封装、系统封装(SiP)都将是市场技术发展趋势,应用在数字相机、多媒体手机中的CMOS影像传感器、电荷耦合组件(CCD)等产品封测技术,也是讨论重点。

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