安捷伦（Agilent）宣布，力晶半导体12M新厂决定采用Agilent 4070系列之高精密参数测试系统，以执行产品之晶圆参数测试Wafer Acceptance Test(WAT)。

安捷伦科技之Agilent 4070系列提供了卓越质量, 高稳定, 及高输出(throughput) 之完整参数测试解决方案，能完全符合业界对于产品之严格参数测试需求。Agilent 4070系列的高准确及稳定性可以支持各不同阶段的制程技术, 并具备了扩充弹性。我们相信Agilent 4070系列不仅可以解决业界发展90奈米晶圆制程的量产测试需求，也可以支持下一世代制程的参数测试需求。

Agilent 4070系列是为用户信赖的WAT测试平台.其稳定,高准确的性能表现不仅为世界各大半导体厂所采用, 并持续荣获VLSI research大奖之肯定。Agilent 4070系列是专为晶圆参数测试之严苛挑战而设计的，具有可扩充之弹性架构 , 所配置的机种及选项可支持各阶段之制程技术。