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安捷伦将举办RF量测基本原理与应用研讨会
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2000年09月04日 星期一

浏览人次:【2912】

安捷伦科技(Agilent)表示,为协助从事通讯、消费性电子、航天领域的工程师,面对快速变迁的技术与愈来愈复杂的量测挑战,该公司将于9月5日至8日分别在新竹、台北与高雄三地举办RF量测基本原理与应用研讨会,以协助RF工程师拥有扎实的基本量测技术。

安捷伦指出,这次研讨会内容将针对四项技术主题做探讨,例如网络分析、RF信号的产生、频谱分析及功率量测。网络分析基本原理将会探讨利用网络分析仪来量测高频电子网络的原理,学者将学会网络分析仪可执行的量测类型、对线性及非线性的组件行为如何进行特性分析,以及网络分析仪的主要组件与使用不同硬件的优缺点等。该主题同时也会介绍涵概错误的模型建立、准确度的提升,以及各种校准技术、滤波器与放大器经常执行的一些扫描频率与扫描功率量测等。

關鍵字: RF  安捷倫科技 
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