爱德万测试 (Advantest Corporation)将於3月14至16日在上海新国际博览中心盛大登场的中国国际半导体展（SEMICON China），实际操作和数位展示12项针对中国半导体市场推出的先进产品和服务。

爱德万测试的展示位置位於N4展馆第4425号摊位，届时将展出最新测试解决方案T2000 AiR系统。该系统专为模组与系统级封装 (System in Package，SiP) 元件的测试而设计，这些模组与元件结合微控制器 (MCU) 和应用处理器，执行诸如通讯、电源管理和感测等功能。小型气冷式T2000 Air应用范围广泛有弹性，除能满足研发阶段的低成本测试需求外，也适用於少量多样化生产时的测试环境。此外，T2000 Air亦可与M4800系列分类机整合，创造高效能、不占空间的测试解决方案，爱德万测试称之为「整合式零占位测试站」(Integrated Zero Test Station)。

此外，爱德万测试亦将在摊位上展示EVA100量测系统，这是一款高附加价值的革命性平台，针对应用於智慧电子产品之低脚位数的类比、混合讯号与感测IC，进行数位及类比测试。扩充性极隹的EVA100平台举凡工程设计、量产环境都适用，能同步控制多重测试功能，进而执行高精准度的量测任务，提升测试效率。

其他将在SEMICON China展示的先进产品还包括了Airlogger WM1000无线资料记录系统，能最大化测试作业效率，并能量测移动中物体的温度。上述功能对於汽车产业与其他制造及研发领域尤其有利。

爱德万测试亦将展示创新的CX1000P CloudTesting云端测试服务，为从事半导体设计、电子元件研发、原型评估、故障分析和学术研究的客户，提供了节省成本的随选测试解决方案。

届时在摊位上还会展示爱德万测试的先进IC测试解决方案━━V93000平台，其所涵盖的测试范围为业界最广，包括系统单晶片 (SoC) IC、系统级封装元件、晶圆级晶片尺寸封装 (WLCSP)、基於射频的半导体、3D元件架构和其他半导体设计等。V93000装载了Wave Scale MX-HR与Wave Scale RF通道卡後性能更上层楼，其同测能力与生产率都提升至前所未有的表现，进而降低无线通讯市场IC测试的成本，为未来的5G元件测试铺路。

其他预定将展示的产品还包括具高度弹性的T5830ES工程站，搭载独特的Tester-per-Site架构设计，使其能针对应用於行动电子产品的广泛快闪记忆体元件执行晶圆测试与最终测试；配备太赫兹 (Terahertz) 技术的TS9000MTA非破坏性半导体封胶厚度量测系统；为LCD驱动器设计的T6391测试机，搭载HiFIX，能针对特定测试频率与元件封装优化测试解决方案；可携式远端作业M4171分类机，具自动上下料及主动式温度控制 (ATC) 功能；因应即将面市之1X奈米技术节点的F7000S电子束微影工具；扩充性隹的B6700测试烧机系统，低功率运作是其一大亮点。