账号:
密码:
最新动态
产业快讯
CTIMES/SmartAuto / 新闻 /
Gennum采用Tektronix波形监视分析3Gb/s芯片特性
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2008年10月19日 星期日

浏览人次:【4150】

Tektronix宣布,广播业先进技术的先驱Gennum,已成功利用Tektronix WFM7120波形监视器,在开发3Gb/s串行数字接口 (serial digital interface ,SDI) 解决方案时,进行设计验证与特性分析。Gennum对于设计和推出支持 3Gb/s SDI的新一代数字视频设备,承受越来越大的压力。3Gb/s SDI提供了一种方法,传送符合SMPTE 424M和 425M 标准的高带宽 1080p 讯号 (也称为 Full HD)。WFM7020和WFM7120波形监视器都支持1080P 50/59.94/60 Level A与Level B格式。

Gennum采用Tektronix波形监视进行3Gb/s芯片特性分析
Gennum采用Tektronix波形监视进行3Gb/s芯片特性分析

当Gennum着手开发最新的芯片组时,需要包括完备分析功能的测试与量测解决方案,以验证3Gb/s技术并进行特性分析。支持 3Gb/s、提供深度量测与分析功能 (抖动量测、数字数据分析与同步输入显示)的WFM7120,正可满足Gennum的设备需求。

Gennum所制造出的芯片(GS2972和GS2970同时具备视讯支持与嵌入式音频功能,GS2962和GS2960仅支持视讯),支持3 Gb/s 的传送与接收解决方案,并可为SDI应用提供高画质(HD)与标准画质(SD)。随着业界首见内建3Gb/s SDI芯片的推出,Gennum的客户得以大幅缩短开发周期,加速新产品上市。

關鍵字: 波形监视器  Tektronix  通用设备 
相关新闻
Tektronix频谱分析仪软体5.4版 可提升工程师多重讯号分析能力
太克收购EA Elektro-Automatik 为全球电气化提供扩展电源产品组合
太克推出适用於测试仪器的开放原始码Python原始驱动程式套件
Tektronix发布双脉冲测试解决方案 加速SiC和GaN验证时间
嘉雨思采用Tektronix高效能示波器 进行高速传输IC设计
comments powered by Disqus
相关讨论
  相关文章
» 确保装置互通性 RedCap全面测试验证势在必行
» ESG趋势展??:引领企业迈向绿色未来
» 高阶晶片异常点无所遁形 C-AFM一针见内鬼
» 高速传输需求??升 PCIe讯号测试不妥协
» 迎接数位化和可持续发展的挑战


刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3  v3.20.1.HK87GBKMSSQSTACUK2
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw