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力旺嵌入式非挥发性内存已完成可靠度验证
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2011年07月18日 星期一

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力旺电子(ememory)于日前宣布,其单次可程序内存NeoBit技术,已顺利于台积公司80奈米高电压制程完成可靠度验证,并已成功导入客户之高画质显示驱动芯片,将应用于下一世代智能型手机。随着手机应用不断演进,更高画质的显示屏幕将是未来智能型手机产业决胜的重要关键因素。

力旺电子表示,单次可程序内存NeoBit于台积公司80奈米高电压制程上展现卓越的可用性,提供高画质显示驱动芯片进行屏幕参数设定的功能,协助调校屏幕画面色彩;另外,此项技术可提高影像锐利度,使画质更清晰。迄今,力旺电子已量产超过相当于两百六十万片内含NeoBit技术之八吋晶圆。

台积公司设计建构营销处处长Suk Lee表示,非常高兴力旺电子藉由台积公司80奈米高电压制程的技术优势,以高可靠度之嵌入式非挥发性内存技术,来协助客户成功创造出高整合度之智能型手机高画质显示驱动芯片。此次成果正是另一个成功的例子,说明台积公司的开放创新平台,是如何帮助IP伙伴为共同客户实现创新并创造最大价值。

關鍵字: 非挥发性内存  80奈米  力旺 
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