精密電子量測儀器廠商致茂電子將於6月台北國際光電大展，展出最新雷射二極體測試、視頻與色彩測試與太陽光電自動光學測試解決方案。

致茂電子將於6月台北國際光電大展，展出最新雷射二極體測試、視頻與色彩測試與太陽光電自動光學測試解決方案。

近來雷射二極體(Laser Diode)應用廣泛，尤其在人臉辨識、無人車、與現行光通訊領域，隨著雷射二極體需求提高，相對注重雷射二極體的品質與可靠度。Chroma 58604雷射二極體燒機及可靠度測試系統，提供雙向SMU功能，使用者在長時間測試時，可針對不同元件，切換量測模式，達到更完整的可靠度測試。

Chroma 58620半導體雷射特性檢測系統，為一搭配自動化特性檢測 All-In-One 設計概念，整合了光學、電性以及溫度控制，使用者可任意制定不同的測試條件。另外，在3D感測應用，致茂亦發展因應此應用的電射二極體VCSEL檢測設備，獨具創新技術。

瞄準2020年東京奧運超高畫質解析度影像轉播技術，致茂電子推出8K SHV解析度(Super-Hi Vision)測試解決方案，提供面板產業和顯示器產業8K超高畫質解析度(7680x4320 / 8192 x 4320)檢測方案的需求，採模組式架構設計，可靈活搭配不同訊號或電源模組，自由組合所需測試條件，彈性高、擴充性強、支援多種主流業界通訊介面。

Chroma 2918 平面顯示器測試器可完整支援 8K@60/120Hz解析度規格，使用者可搭配獨特的FPD Master、GO/NO GO軟體，進行快速編輯與執行檢測作業流程。

Chroma 2238視頻訊號圖形產生器可支援至 8K@60Hz解析度規格，直觀易操作的圖形化觸控UI與軟體介面，提供使用者最順暢的操作體驗。同時搭載獨立繪圖引擎，最大可同時輸出四種不同解析度與測試圖形。

Chroma 7200系列太陽能電池片與矽晶圓自動化檢測系統，是為了可以檢測所有太陽能電池生產線上生產的晶片以及電池片的瑕疵所設計，搭配Chroma整廠自動化解決方案，可滿足客戶低成本生產的需求。Chroma 7200可檢測 6"的太陽能電池片或矽晶圓尺寸，並可檢測單晶、多晶甚至是類單晶的成品。

根據不同的生產製程，共有 8 種不同功能的AOI機器可供搭配成晶片進料檢驗、抗反射膜顏色檢驗、絲網印刷檢驗，甚至是電池片出貨分類檢驗等不同用途。

參展資訊

展覽名稱：2017台北國際光電大展

時間：6月14-16日

地點：台北世貿中心南港展覽館 1F

展位：致茂電子 (攤位號：J1016)

展示內容：多元光學測試解決方案