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製造力轉為標準力!台灣首次催生4項FPD標準
 

【CTIMES/SmartAuto 籃貫銘 報導】   2010年06月10日 星期四

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國際半導體設備材料產業協會(SEMI),於今日(6/10)與友達光電及工研院共同宣布,成功提案通過4項SEMI平面顯示器國際產業技術標準,包括3D顯示器名詞定義、明室對比量測方法、雲紋量化標準,以及色彩分離現象名詞定義。這也是台灣首次突破國籍的限制,正式在國際產業技術標準上取得成果,顯示台灣在顯示器產業上的技術實力已獲肯定。

左至右:TDMDA執行長劉佳明、工研院量測中心副主任林增耀、電光所所長詹益仁、友達光電技術長羅方禎、SEMI台灣暨東南亞區總裁曹世綸 BigPic:500x391
左至右:TDMDA執行長劉佳明、工研院量測中心副主任林增耀、電光所所長詹益仁、友達光電技術長羅方禎、SEMI台灣暨東南亞區總裁曹世綸 BigPic:500x391

過去台灣受制於非聯合國會員的因素,因此在IEC、ISO等國際產業標準制定上備受阻擾,不但無法正式參與標準制定組織,且日韓也透過標準的制定,企圖限制台灣平面顯示器產業的發展,讓台灣在研發與製造上都衍生額外的生產成本。而此次SEMI分別和工研院量測中心及工研院電光所合作,整合友達、新奇美和中映等主要廠商,在「SEMI台灣FPD技術標準委員會」下成立工作小組,邀請產官學研專家共同研議並提出新標準草案,進行國際表決,在短短一年內,就通過3項畫質檢測標準和1項3D顯示相關標準。

本次通過的4項標準包括:

編號 標準 說明
SEMI D56-0310 明室對比(ACR)量測方法 定義顯示器在有環境光的影響下對比量測方法,此方法能更忠實呈現顯示器在真實環境內之影像表現。
SEMI D57-0310 雲紋(Mura)量化標準 此標準透過人因實驗分析出人眼觀看Mura之視覺方程式,透過此方程式能算出不同狀況下Mura的量化數據,解決長久以來Mura 不易量化之困擾。
SEMI D58-0310 畫質檢測時Color breakup現象之名詞定義 確認各公司對使用術語的共識並完成定義,減少溝通上之不必要誤解。
SEMI D59-0710 3D 顯示器之名詞定義 確認各公司對使用術語的共識並完成定義,減少溝通上之不必要誤解,以利相關技術的發展。

SEMI台灣暨東南亞區總裁曹世綸表示,國際產業技術標準對產業技術和成本降低十分重要。而SEMI將國際標準制訂的運作模式引進台灣,就是希望能夠協助台灣半導體、平面顯示器、太陽能和LED等高科技產業突破瓶頸,順利在國際間發聲並拿回技術主導權。

友達光電技術長羅方禎表示,顯示器產業技術標準制定後,就能夠減少爭議,避免退貨的機會,因此能夠減少成本支出。且廠商從研發到製造端也都能有遵循的依歸,對於企業發展有舉足輕重的影響。而此次台灣能夠在國際標準制定上取得成果,將有助於台灣自有的產品優勢顯示出來,避免受制於日韓的包圍。以此次的「明室對比(ACR)量測方法」為例,就能夠表現TFT-LCD的優點,讓台灣產品更具競爭力。

TDMDA執行長劉佳明也表示,產業有一致的標準,就不必重複進行量測,所減少的時間成本非常可觀。

工研院量測中心副主任林增耀則以「突破、壯大、鞏固」6字,來詮釋台灣在平面顯示器產業標準制定的過程。他表示,台灣在2年前是突破期,那時受到日本諸多阻擾和質疑,故轉尋求美國的協助,而美國對於台灣的製造能力非常信任,因此也促成了現在成功的通過標準提案。這也是台灣從製造能力轉變為標準能力的印證。目前台灣已進入了鞏固期,未來將為持續提出更多的顯示器產業標準,加重台灣在國際的影響力。

關鍵字: 3D顯示  SEMI  工研院  友達光電(AUO劉佳明  林增耀  詹益仁  羅方禎  曹世綸 
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