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Tektronix推出高灵敏度、低杂讯的新款光学模组
 

【CTIMES/SmartAuto 陳復霞整理报导】   2017年03月29日 星期三

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Tektronix(太克科技)为其DSA8300取样示波器推出全新的光学模组。此模组具有高的遮蔽测试灵敏度和最低的杂讯,并配备了全新功能,可提升生产能力并改善当前100G设计投入生产的产量。 Tektronix同时还推出了其400G测试解决方案的增强功能,包括IEEE乙太网路标准驱动的发射器和分散眼闭锁(TDECQ) PAM4,以及针对光学测试的相关支援量测。

DSA83000取样示波器的新模组提升了100G设计的产量;Tektronix同时也新增了全方位的400G PAM4 TDECQ量测功能。
DSA83000取样示波器的新模组提升了100G设计的产量;Tektronix同时也新增了全方位的400G PAM4 TDECQ量测功能。

在2017年3月23日在加州洛杉矶所举行的OFC 光学网路和通讯研讨会和展览上,太克科技展示全新的模组和功能,以及全套Tektronix 100G/400G光学特性分析和验证解决方案。

Tektronix高效能示波器总经理Brian Reich表示:「随着100G设计投入生产,制造产量就变得至关重要。我们最低的固有杂讯可让使用者对测试结果更有信心,从而提升光学组件和互连设备的制造产量。在此同时,我们也利用全方位的工具和功能,在新一代资料传输中提供深入的分析和有效的除错功能,持续引领400G的发展趋势。」

当安装在DSA8300取样示波器中时,全新的80C17和80C18光学模组可提供 -14 dBm的遮蔽测试灵敏度,超过28 GBd PAM4标准的要求,同时提供3.9 μW杂讯效能,并具有广泛的波长支援。双通道80C18可让光学制造测试工程师能加倍提升传输量和容量。若装置故障,Tektronix还能提供分析工具来分解杂讯和抖动的讯号内容,以协助工程师了解潜在的问题。

80C17和80C18光学模组和400G测试软体增强功能将于2017年4月底开始提供。

關鍵字: 光学模块  Tektronix  太克科技  光通訊儀器  測試系統與研發工具 
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