德州仪器(TI)近日推出一款新型超高速类比数位转换器(ADC),具有领先业界的频宽、取样率及最低的功率消耗。ADC12DJ5200RF可协助工程师实现 5G测试应用和示波器的高量测精确度,以及应用於雷达的 X 频带 (X-band)直接取样。
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TI 将於 2019 年 6 月 4 日至 6 日在美国波士顿举行的国际微波会议(IMS,International Microwave Symposium)的1272号摊位展示 ADC12DJ5200RF。
在最宽的频谱范围内实现最快的量测
-最宽的频宽:在8 GHz频率下,与其它竞争产品相比,ADC12DJ5200RF可让工程师实现高於20%的类比输入频宽,使工程师能够直接将非常高的频率数位化,无需另外降频进而影响功率消耗、成本和尺寸。
-最快的12位元ADC:在双通道模式下,ADC12DJ5200RF取样速率为每秒5.2 gigasamples (GSPS),并以12位元解析度撷取高达2.6 GHz的瞬间频宽(IBW)。在单通道模式下,新型的超高速ADC取样速率为10.4 GSPS,可撷取高达5.2 GHz的IBW。
-高效介面:ADC12DJ5200RF 为第一款支援JESD204C标准介面的独立GSPS ADC,其能大幅减少向可程式逻辑阵列(FPGA)输出资料时,所需的串联器/解串器之通道数量,进而让设计人员能够实现更高的资料速率。
在电源供应和温度变化范围内以最高性能和稳定性进行设计
-最高的讯号侦测敏感度:ADC12DJ5200RF在电源供应变化范围内具有最高的动态性能,即使在最低规格下也是如此,透过提供超高的接收器敏感度侦测最微弱的讯号,可提升讯号的智慧程度。此外,该装置包括内部振动 (internal dither),可提高无杂波(spurious-free)性能。
-高量测准确度:TI 新型的超高速ADC 显着地降低了系统误差,且偏移误差低至 ±300 μV,以及零点温度漂移 (zero temperature drift)。
-最低的CER:设计测试与量测设备的工程师可以充分利用 ADC12DJ5200RF极低的程式码错误率(CER,code error rate)实现高量测可重复性(repeatability),使其优於竞争装置高於 100 倍。
解决方案尺寸缩减 30% 且功率消耗降低 20%
-更小的系统尺寸:ADC12DJ5200RF 比离散式解决方案小 30% 的尺寸,10 mm×10 mm的尺寸可帮助工程师节省电路板空间。这款新型超高速ADC更减少通道数量,有助於更小的印刷电路板设计。
-最低的功率消耗:ADC12DJ5200RF 4-W的功率消耗可协助工程师将散热降至最低,并简化整体的热能管理设计,比其他竞争品牌的 ADC 少20% 的功耗。
ADC12DJ5200RF与以下其他TI GSPS ADC针脚相容,可提供从2.7 GSPS到10.4 GSPS的简单升级路径,并最小化重新设计的时间和成本:ADC12DJ3200、ADC12DJ2700和ADC08DJ3200。
加速设计的工具和支援
-使用ADC12DJ5200RFEVM和TSW14J57EVM评估模组测试全新的超高速 ADC,现在即可从TI store和授权代理商购买。
-工程师可以使用 ADC12DJ5200RF 以及用於时钟和电源供应最隹化的多晶片同步叁考设计,快速开始设计。
供货与封装
ADC12DJ5200RF双通道和单通道超高速ADC 样品可透过 TI store 取得,该装置采用144-ball、10 mm×10 mm倒装晶片球栅阵列(FCBGA)封装。