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NI 将参展 2013 台北国际自动化工业大展
 

【CTIMES/SmartAuto 报导】   2013年08月26日 星期一

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美商国家仪器( National Instruments, NI) 将于 8/28(三)~8/31(六) 参加 2013 年台北国际自动化工业大展。此次 NI 将针对”完美自动化 -- 单一平台,无限可能” 此一理念,为所有与会者呈现如何藉由 NI 硬件平台,搭配 LabVIEW 软件,让自动化变得简单、易整合。

在本次自动化工业大展中,将可看到 NI 以 LabVIEW 图形化软件为核心,搭配NI 各式硬件平台,帮助工程师完美整合自动化各式测试或控制需求。其中已成为业界标准的 PXI 平台,其模块化仪器可根据产品的测试需求,高弹性地调整安装模块建构出最佳测试系统,并将过去需要数台的箱型仪器测试仪,整合在单一的 PXI 机箱上。

而自动化产在线,热门的 Vision、Motion 整合也藉由金属中心所建构高精度自动化组装系统,以及 NI 甫在 NIWeek 问世的 CompactRIO 9068,完整呈现产线机台嵌入式监控系统的应用。NI 的软件定义测试平台,已协助数千家企业降低自动化检验与生产的测试成本。透过此方式,企业可省下重要设备与系统开发的费用、缩减维护成本,并加快执行速度透过多元平台及硬件选择,相信亦将可满足自动化系统滴、中、高阶各式需求。

NI 欢迎所有业界先进在台北国际自动化工业大展期间到 NI 摊位 (J 418) 一同切磋讨论,更期待能透过 NI图形化软件开发工具,加速设计并布署测试系统的完整解决方案,协助客户迈向成功。

關鍵字: 台北国际自动化工业大展  NI  PXI  Compact RIO 
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