是德科技（Keysight）日前发表新的实作方法（MOI）指南，让工程师能使用ENA系列网路分析仪的增强时域分析选项（E5071C-TDR），执行PCIe 3.0发射器/接收器（Tx /Rx）阻抗和回返损耗测试（Hot TDR/RL）。该指南详细介绍时域和频域量测程序，并可与是德科技状态档等测试套件搭配使用，以大幅简化相符性测试和配置。

逐步操作是德科技新的实作方法指南，让缆线相符性测试化繁为简。

随着数位应用的传输速率不断提高，阻抗匹配变得极为重要，因为它对眼图张开/闭合程度有着显著的影响。藉由评估PCIe 3.0主动元件（TX/RX）在开机和运作状态下的阻抗，工程师可获得多重反射的量化结果，让此测试挑战迎刃而解。热TDR /热回返损耗量测让工程师能够更全面地洞察信号完整性问题，并确保以多Gb速率运作的高速元件能够维持应有的效能。

台湾是德科技总经理张志铭表示：「是德科技MOI可用于许多不同的高速数位应用，例如USB、DisplayPort和Ethernet。最近我们又新增了PCIe 3.0 MOI，再一次展现我们竭尽全力提供客户所需功能的决心，让客户能轻松地克服高速量测挑战。」

适用于E5071C-TDR的PCIe 3.0 MOI现已开始对外供货。 （编辑部陈复霞整理）