Agilent Technologies（安捷伦科技）E2960B系列新近针对PCI Express(PCIe)2.0标准，推出业界第一套x16的exerciser（仿真试验器）和slot interposer（插槽界接探测器）探量解决方案。加入这些新产品后，Agilent E2960B系列现在可以提供业界需要的可扩充及整合式分析仪和仿真试验器解决方案，能针对PCI Express 1.0和2.0的所有链接宽度和速度等级，以非侵入的方式量测PCIe信号、进行标准的激发测试和跨系统分析。

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高速序列技术仍持续发展中，继续推出新一代的PCIe通讯协议。PCIe 2.0的速度快了一倍，由2.5 Gb/s增加为5 Gb/s，可以满足绘图等高效能应用对带宽的更高需求，也可以让现有的应用在改用较少接脚数的同时，也能保有原来的传输带宽。安捷伦科技专为PCI Express推出的E2960B系列是工程师想要成功转进新一代技术的首选工具，可同时提供分析解决方案和激发解决方案，若要有效率地成功设计出PCI Express的装置或系统的话，这是绝对必要的。

对于需要分析PCI Express系统的工程师来说，慎选可靠的探量解决方案极为重要。除了备受肯定、采用Soft Touch技术的Midbus Probe 2.0以外，安捷伦科技也针对PCI Express 2.0，提供Agilent N5315A插槽界接探测器，可支持最高到x16的所有链接宽度。

此外，增强过的E2960B系列软件包可检视数据交易互动的情形，提供更精简易读的流量信息，且会以可扩展的单列方式，将属于某特定数据交易的所有封包摘要列出。这套软件采用安捷伦科技精密复杂的搜索引擎，可进行ad-hoc（点对点传输）除错，几乎能立即提供搜寻的结果，免去除错过程中冗长的等待时间。

当工程师需要激发解决方案，以便快速又有效率地测出PCIe装置的链接训练反应，以及功能强大的解决方案，以便将装置逼至极限状态时，Agilent PCIe仿真试验器是唯一可以同时测试PCI Express装置或系统的工具。

交易层测试和数据链接层测试需要同时使用LTSSM（Link Training and Status State Machine）测试仪和仿真试验器。x1到x16的LTSSM测试仪可以在所有信道上，以原速产生各种训练序列，运用预先设定好的测试，有效地进行链接协商测试，现在能涵盖和测试到LTSSM的更多部份。

x1到x16的仿真试验器是一套功能完善且可以随意设定激发条件的解决方案，能在所有的链接宽度下，进行root-complex仿真、端点仿真、以及附加卡测试。此仿真试验器也提供内存数据比较、电源管理支持、以及含错误信号的DLLP传输等功能，提供另一等级的PCI Express 2.0验证测试能力。

适用于PCI Express 2.0的Agilent E2960B系列能缩减功能，以解决目前PCI Express 1.0的测试需求，需要时，也可以扩充功能以符合PCI Express 2.0的测试之需。E2960B系列采模块式的设计，可以保障客户的投资，因为它能提供各种建构区块的选择，如分析仪、仿真试验器、两种速度等级（第二代已达2.5 Gb/s，全速为5 Gb/s）、所有的链接宽度（x1、x4、x8、x16）、可扩充用于交互触发的Protocol to Logic（P2L）网关、marker（标记）关联、以及通讯协议和逻辑分析仪之间的flag（旗标）功能。

台湾安捷伦科技董事长暨电子量测事业群总经理申义龙表示：「我们很高兴E2960B系列能扩大提供PCI Express的解决方案，有了探量解决方案，再搭配先进的仿真试验能力和扩充的软件功能，我们的客户就可以随心所欲地进行最高速度到5 Gb/s的PCI Express设计和开发。」