全球示波器的领导制造商 Tektronix 日前宣布，已增强其USB 3.0 测试解决方案多项新功能；包括，业界首个针对SuperSpeedPlus 10 Gb/s规格的发送器测试解决方案。其他增强内容则有以示波器为基础的层级式译码新功能，以及适用于SuperSpeed USB发送器的增强自动化解决方案，可提升测试吞吐量达六成。

USB 3.0较快的数据速率带来新的测试挑战，最显著的是增加信道损耗、降低讯杂比、更复杂的链接训练，以及必须验证的时序需求。随着设计空间缩小，具备一个精确和特定标准量测系统，较以往更显重要。Tektronix SuperSpeedPlus USB 测试解决方案 (选用配备SSP) 能完全满足所有的上述需求。

Tektronix高效能示波器部门总经理Brian Reich表示：「如USB 3.0这样重要的业界标准随着时日在演进发展，我们的测试和量测工具也要随之进行革新，这一点是很重要的。我们USB解决方案的最新增强功能，是让工程师可以确认是否符合我们最新版的USB规格、缜密地译码总线运作加快除错作业，以及在执行自动化兼容性测试的同时大幅缩短测试时间」。

在紧迫的时间限制和日益复杂设计的情况下，工程师需要能跨总线多层级作业的弹性工具，以便能更快速地找出问题。Tektronix USB 3.0 译码软件具备特定通讯协议触发、简易使用搜寻和导览，以及多层级译码等功能，可有效简化除错作业。让用户可在同一屏幕上，轻松在通讯协议堆栈以及与模拟波形关联的完整时间中导览。

全新的TekExpress USB 自动化软件 (选用配备 USB-TX) 善用Tektronix 多年来的USB 兼容性测试专业知识，并同时纳入提供大幅改善效能的全新软件架构。客户将看到缩短六成测试时间的改善成果。例如，先前需12分钟完成的 USB 3.0 Tx 测试，现在使用全新的TekExpress 软件测试约需5分钟即可完成。

USB-IF总裁兼营运总监Jeff Ravencraft 表示：「预期到2013年底将出货超过5亿个 SuperSpeed USB产品，USB 仍旧是主机与接口设备通讯互连的主流产品。所以，如Tektronix这样的领导测试和量测设备提供商，他们的支持将非常重要，这样才能确保我们的成员公司能快速推出认证的USB 3.0 产品和解决方案」。