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TI推出硅锗互补双极-CMOS制程技术
 

【CTIMES/SmartAuto 楊青蓉报导】   2002年08月07日 星期三

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德州仪器(TI)7日推出硅锗互补双极-CMOS制程技术,速度比现有互补双极制程增加三倍。新硅锗制程是业界率先整合NPN和PNP双极晶体管的制程技术,可将运算放大器和其它高效能混合信号组件的速度提高三倍,噪声减少一半。对于高效能系统设计工程师,例如无线基础设施、量测装置、医疗图像处理或其它应用,他们将能享受新制程技术带来的更快速度、更低失真、更大动态范围和更高整合度。

TI表示,支持高效能模拟应用是TI努力的目标,BiCom-III制程和其它发展中的模拟制程即是最佳证明;BiCom-III使得TI工程师有能力制造各种高效能产品。BiCom-III晶体管速度较快,噪声和失真也较低,许多高效能应用都将因此得利,例如在电话基地台、局域网络和数据传输台等高速无线系统中,这些特色可在更小空间内,提供更多拥有更大带宽和更高精准度的信道。更宽广的动态范围则能免除中频电路,使客户简化设计,降低系统功率消耗和成本,采用BiCom-III产品的半导体测试设备将提供高速度,足以支持发展中的新世代高效能组件,医疗影像应用也将受惠于更大动态范围带来的好处,包括电缆调制解调器和硬盘驱动前置放大器等。

BiCom-III同时结合硅绝缘层芯片、深沟隔离层、互补硅锗双极和最先进5V CMOS晶体管、电阻和电容,为芯片设计人员提供高效能、高精准度、而且能针对各种新设计进行个别单元优化的零件。

關鍵字: TI  一般逻辑组件 
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