安立知（Anritu）为其无线通讯综合测试平台MT8000A推出「使用机器学习的 EIS-CDF 最隹化」MX800010A-026 全新软体选项，透过机器学习实现最隹化的 5G 毫米波（mmWave）3D EIS扫描（EIS-CDF）测试时间。

安立知推出「使用机器学习的 EIS-CDF 最隹化」MX800010A-026全新软体选项，透过自动化学习 UE 天线特性并提高测试效率。

随着北美和日本等发达经济体正加快推出快速连接 5G mmWave（FR2）服务的步伐，mmWave使用者设备（UE）的研发和一致性测试预计将在未来成为更活络的市场。

3GPP标准规定在OTA（Over-the-Air）测试环境中以 3D测试 mmWave UE 天线特性。由於3D测试的数量或测量点较多，透过机器学习途径得以大幅缩短测试时间，并可??最隹化毫米波 UE 的测试效率，进而普及。

MX800010A-026 软体选项支援使用安立知的缩距天线量测场（Compact Antenna Test Range；CATR）电波暗室 MA8172A 进行3D EIS 扫描测试，其方式是透过自动化学习 UE 天线特性，从而提高测试效率。使用相同的 UE 重复多次 3D EIS 扫描，有助於最隹化测试效率。

机器学习透过後续的重复学习，让两个 mmWave UE 模型的测试时间最隹化了大约 35%至 60%。

多合一的 MT8000A 平台支援射频（RF）、协议和应用操作测试，以及波束验证和波束特性评估。MT8000A除了具有开发5G晶片组和UE所要求的非独立 （NSA）和独立（SA）模式基地台操作之模拟功能，还支援所有的5G FR1（600 MHz、2.5 GHz、3.5 GHz、4.5 GHz 和6 GHz免授权）和FR2（24 GHz、28 GHz、39 GHz 和 43 GHz）频段。

CATR 电波暗室MA8172A使用符合3GPP标准的CATR方法，可在狭小空间中实施5G NR OTA测试。它可用於5G NR晶片组和UE的mmWave开发和一致性测试。