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全新的 NI PXIe-4143 电源量测单位

‧ 全新的 NI PXIe-4143 电源量测单位 (Source Measure Unit，SMU) 具有市面上最高的信道密度，取样率也是数一数二，极适合用于多针脚半导体装置的平行测试。

‧ 全新的 SMU 搭载 NI SourceAdapt 技术，方便工程师针对各种待测装置 (Device Under Test，DUT) 负载来客制微调 SMU 响应。

‧ NI 工程师即将在 7 月 10 日至 12 日于美国旧金山 Semicon West 展览北栋第 6360 号摊位展示最新的 SUM。

NI推出新的 PXI SMU 系列产品，适用于自动化半导体测试。全新的 NI PXIe-4143 SMU 每秒取样率为 600,000，具有 4 个信道，堪称信道密度最高的 SMU，非常适合多针脚半导体待测装置的平行测试，并且能以 150 mA 将 NI 的多信道 SMU 输出范围提高至 24 V。这些功能有助于降低主要设备的成本、缩短测试时间，同时针对各种待测装置提高混合讯号的测试弹性。

「有了全新的 NI PXIe-4143，现在我们的 SMU 系列可让工程师针对几乎各种装置进行 DC 量测」，NI 半导体测试副理 Ron Wolfe 表示：「我们的信道数量领先，再加上优异的取样率与可客制微调的 SourceAdapt 技术，因此打造出最具弹性的半导体量测仪器。」

【产品特色】

‧ 4 个 SMU 信道，取样率高达 600 kS/s 以便量测快速瞬时响应

‧ 以 150 mA 提供 24 V 的 4 象限输出功能，补足现有的 NI SMU 汲极 (sinking) 与源极 (sourcing) 功能

‧ 量测敏感度为 10 pA

‧ 富有弹性的精简 PXI 模块化仪器架构，适合小型设备布署