爱德万测试 (Advantest Corporation)推出M4171分类机，满足客户在元件特性验证和试产良率攀升阶段，对於高功耗IC温度控制测试的需求。

爱德万测试针对半导体工程实验室，推出具温控测试的创新IC自动分类机。

此一新款可移动、Single-site分类机能在工程实验室中自动装载和卸载元件，并设定温控和做好元件分类，不需再仰赖人力手动处理，同时和传统较大、较贵的量产规模分类机台一样，具备主动式温度控制 (ATC) 功能。

客户随时随地都能透过网路远端操作M4171机台，顺畅执行元件分类与温度控制作业。采用此新款分类机不仅可精简操作人力、节省实验室成本，更能协助身处不同地点的工程团队，大幅提升系统利用率。

自动元件分类、远端操作，再加上涵盖-45。C至125。C大范围温度控制的ATC功能，使得M4171从同类竞争者中脱颖而出，可以使用预设值或使用者自行定义的叁数，执行包括多模式测试流程(例如单进多温度测试Single Insertion Multiple Temperature)、自动测试、自动ID测试、输出盘 (output tray) 二次测试与手动测试。

具备即时升级温控(Tri-Temp Technology)能力的M4171分类机，能在各种温度下进行测试作业，充分提升测试效率。该系统采行元件表面直接接触的测试方式，无论升温或降温皆可以快速切换，与手动式的温度控制解决方案相较，其循环温度测试效率大幅提升40%。

M4171分类机可与V93000、T2000测试机及其他测试平台相容。更多特色，包括二维码读取机台、元件旋转器以及High Contact Force 的功能选项。M4171分类机的图形使用者介面 (GUI) 提供直觉式设计，包括预先设定测试叁数，使操作更加容易。

爱德万测试总公司执行役员及Device Handling 事业部部长後藤敏雄先生表示：「藉此高性价比的自动分类机引进实验室，我们可以协助客户在既有基础上提升系统利用率，进而大幅提高生产力。随着首款Single-site ATC分类机M4171，爱德万测试将在实验室及小型工作桌等级的元件特性验证机台的领域上，开拓新的商机。」