账号:
密码:
最新动态
产业快讯
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
NI发表USB规格的X系列多功能DAQ
 

【CTIMES/SmartAuto 劉筱萍报导】   2010年10月24日 星期日

浏览人次:【3786】

NI发表NI X系列的USB规格多功能数据撷取(DAQ)适配卡。USB X系列适配卡,即以单一的即插即用适配卡,整合高效能的模拟量测/控制信道、数字I/O,与计数器/定时器,让工程师可用于多样的可携式量测与数据记录应用。USB X系列DAQ适配卡可具备最多32个模拟输入、4个模拟输出、48个数字I/O信道,与4组计数器。此8款新适配卡囊括500 kS/s的多任务AI,到各信道2 MS/s的同步取样AI。

NI LabVIEW图形化程序设计功能,可让工程师针对USB X系列DAQ,以直觉的图标与接线组成流程图,轻松开发完整的客制化测试应用。LabVIEW 2010可透过NI DAQ Assistant中的数据管理串流新技术,简化数据记录与分析作业,并可将波形图的数据导出至Microsoft Excel或NI DIAdem,以利后续处理。与其他NI DAQ适配卡相同,USB X系列DAQ亦使用相同的多线程NI-DAQmx驱动程序。若先前应用亦搭配X系列,则可轻松汇入LabVIEW或文字架构的程序代码而重复利用。

所有USB、PCI Express,与PXI Express规格的X系列DAQ,其核心均为NI-STC3时序与同步化技术,整合模拟、数字,与计数器子系统的时序/触发功能。NI-STC3技术可为X系列适配卡提供独立的时序引擎,用于内建的模拟与数字I/O子系统,让工程师可依不同速率独立执行模拟与数字I/O,亦可透过同步化功能将之整合。X系列适配卡具备4组强化的32位计数器,适用于频率、脉宽调变(PWM),与编码器作业;而新的100 MHz时基(Timebase)可达前款适配卡的5倍分辨率,以产生模拟与数字取样率。

USB X系列DAQ亦内建NI Signal Streaming,可使用讯息架构(Message-based)的传输方式,并于装置端执行智能运算,透过USB达到高速的双向数据传输作业,并可同时执行模拟、数字,与计数器作业。目前有2款适配卡可透过此项技术进行同步取样,且8个模拟输入信道均可分别达到1.25 MS/s与2 MS/s取样率。这些适配卡亦内建32或64 MS内存,确保USB高流量时亦可进行稳定的撷取作业。由于所有信道均可达高取样率,因此极适用于可携式超音波测试,与瞬时记录应用。

關鍵字: NI  測試系統與研發工具 
相关产品
简化5G功率放大器验证 MaxLinear与NI整合射频演算法与IC测试软体
NI 发表 LabVIEW NXG 的新功能 推出快速、灵活且适用於网路的功能
NI推出满足5G NR研究与系统原型制作的全新mmWave Radio Head
NI扩充RFIC测试功能以因应NB-IoT与eMTC标准
NI 推出Sub-6 GHz 5G新空囗叁考测试方案
  相关新闻
» Anritsu Tech Forum 2024 揭开无线与高速技术的未来视界
» 安立知获得GCF认证 支援LTE和5G下一代eCall测试用例
» 资策会与DEKRA打造数位钥匙信任生态系 开创智慧移动软体安全商机
» 是德科技推动Pegatron 5G最隹化Open RAN功耗效率
» 是德科技PathWave先进电源应用套件 加速电池测试和设计流程
  相关文章
» 最隹化大量低复杂度PCB测试的生产效率策略
» 确保装置互通性 RedCap全面测试验证势在必行
» ESG趋势展??:引领企业迈向绿色未来
» 高阶晶片异常点无所遁形 C-AFM一针见内鬼
» 高速传输需求??升 PCIe讯号测试不妥协

刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BM8SVRQ0STACUK0
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw