安捷伦科技（Agilent Technologies Inc.）日前宣布推出最新版的Agilent X系列量测应用软件，进一步延伸了其LTE-Advanced量测领导地位。该软件提供符合3GPP第11版标准（3GPP Release 11）的多元射频相符性测试功能，方便工程师对LTE-Advanced FDD和TDD发射器与组件进行最全面的测试。该软件亦适用于桌上型和模块化产品。

LTE-Advanced象征着持续演进中之LTE标准的革命性突破。在整个开发周期中进行适当的量测，对于产品是否能在市场中热销，仍是至关重要的因素。安捷伦先前推出的LTE-Advanced信号分析仪和信号产生解决方案，是业界首见的LTE-Advanced产品，让制造商能在研发阶段就排除相符性问题。现在，安捷伦的嵌入式LTE-Advanced X系列量测应用软件可在设计验证和制造阶段，克服相关测试挑战。

新的Agilent LTE-Advanced量测应用软件让Agilent X系列和模块化信号分析仪能够利用单键式量测功能快速进行测试。新版软件还提供超快的量测速度、SCPI程控能力、通过/不通过测试，以及简单的操作方式，是设计验证和制造应用的理想选择。

台湾安捷伦科技电子量测事业群总经理张志铭表示：「客户需要倚赖业界最强大、最先进的新型解决方案来执行LTE-Advanced发射器和组件的验证和制造。这套嵌入式量测应用软件建构于我们备受肯定的创新无线相符性量测技术，可全面支持3GPP Release 11规格，确保客户能够在执行LTE-Advanced无线测试时，获得更深入的洞察力和更高的自信度。」

射频相符性测试驭繁为简

Agilent LTE-Advanced量测应用软件让工程师能依据3GPP Release 11标准的规范，对LTE-Advanced发射器的连续和非连续配置，进行业界最完整的射频相符性测试。所支持的特定量测项目包括发射器输出功率特性和传输信号质量量测，并可量测基地台和用户设备的干扰发射信号。

该量测应用软件还可根据3GPP Release 11制定的新要求，对频段内非连续载波聚合，执行累积相邻信道泄漏比（CACLR）和累积频谱放射屏蔽（SEM）量测。另一家网络业者所部署之子区块间隙（sub-block gap）内的频谱，会使得频段内非连续配置遭遇干扰，因而带来独特的干扰发射信号射频量测挑战。新的CACLR要求和SEM量测所需的特殊波罩，使得工程师必须量测sub-block gap两侧的载波所引发的问题。安捷伦新版的LTE-Advanced量测应用软件，是目前市场中唯一可对非连续载波聚合，同时提供CACLR量测和SEM特殊波罩的解决方案。

Agilent X系列量测应用软件

Agilent X系列量测应用软件显著增进了安捷伦信号分析仪的功能和性能，并且加快用户获得洞察力的速度。它们提供重要的量测功能，并涵盖超过40种标准或调变类型，让工程师能顺利完成一般、蜂巢式通讯、无线链接和数字视频应用的特定量测任务。安捷伦桌上型和模块化仪器均支持该应用软件，唯一的差别在于客户所选择的硬件，会影响到可获致的效能。用户可依照不同应用的要求，选择所需的效能等级，以确保从开发到制造阶段，所有信号分析仪都能获得完全一致的计算性能和算法。