测试、量测和监控仪器厂商Tektronix，宣布推出全新TLA7S16与TLA7S08串行分析仪，可供进行PCI Express（PCIe）1.0与2.0设计的测试与验证。全新的Tektronix串行分析仪产品，独家提供了详细的PCIe 2.0通讯协议信息，以及跨总线的分析。这些扩充了产业最完整的PCIe测试解决方案，让新一代高速运算平台的发展得以进行。

串行分析仪

除了串行分析仪外，Tektronix也推出全新的P6716/P6708中途总线探棒，及预先推出的插槽内插式探棒，以进行PCIe 2.0所有层级的测试与验证。插入Tektronix TLA7000系列逻辑分析仪的此一全新分析仪，新增了进行通用讯号除错并建立关联的功能，以及其他包括内存与计算机处理器的系统互连。

PCIe 2.0链接可动态变更宽度（信道数目）。例如，8信道链接（x8）可变更为需要电源较少的4信道（x4），并在系统需要时变回x8。PCIe 2.0规格也可让链接速度动态变更为介于2.5 Gb/s到5 Gb/s间，同时支持PCIe 1.0与2.0标准。此外，在未使用时，链接可短期间内进入闲置电源状态。要验证这些链接能在宽度与速度变更时，以及在电源管理状态间来回转换时正常运作，是相当重要的。全新的Tektronix串行分析仪，可独特地验证与除错这些链接过程的运作。

随着电子系统日渐复杂，设计中的并列与高速串行总线整合也越来越常见。在许多情况下，无法只检视 PCIe总线，就进行系统层问题除错。一个例子就是PCIe链接发出内存读取要求给处理器。接着会轮到处理器发出内存读取要求给DDR内存。如果DDR内存读取错误的内存地址，将会把不正确的数据传回PCIe链接，并导致不正确的系统动作。Tektronix TLA7000逻辑分析仪能够用单一测试平台，建立PCIe、处理器与内存之间时间关联互动的工具。