Tektronix今（20）日宣布，该公司的SuperSpeed USB解决方案，支持NEC Electronics USB 3.0兼容主机控制器的讯号质量验证作业，这是获得USB设计论坛（USB Implementers Forum）认证的USB 3.0产品。

NEC Electronics与Tektronix通力合作，共同验证该公司的新式硅组件，以符合新兴SuperSpeed USB标准（USB3.0）的需求。USB技术已经迅速成为公认的用于连接计算机和接口设备的业界标准，与其他一些最先进的高速接口（如PCI Express 2.0和SATA Gen 3）比较，SuperSpeed USB 3.0的数据速率高达5Gbps，其效能足以应付更复杂的量测挑战。

Tektronix表示，若要解决这些挑战，必须使用性能和弹性具佳的仪器，以及能提供速度及简化设计工作、量测步骤与分析的工具，Tektronix USB 3.0测试解决方案能提供工程师像NEC Electronics工程师一样的能力，除了为他们的USB装置进行特性分析、除错和兼容性测试外，还可自动进行边际量测和兼容性测试。Tektronix AWG7122B任意波形产生器可针对关键的USB 3.0接收器边际测试，提供讯号产生弹性，协助USB 3.0兼容产品更快上市。

Tektronix SuperSpeed USB兼容性解决方案是以仪器为基础所建置（实时取样示波器、任意波形产生器等等），能提供满足高速串行协议所需的量测效能。例如DSA71254B实时示波器，提供一个高带宽、低噪声的环境，以准确撷取并分析快速串行讯号频率率。AWG7122B任意波形产生器同样也提供包含应力的复杂波形，可仿真传输路径的递减效果，以支持接收器测试。这些硬件工具搭配专业软件应用，如DPOJET抖动与眼图分析工具、SerialXpress先进抖动产生工具，以及TekExpress USB 3.0自动化兼容性测试软件，以提供设计人员所需的设计验证和除错工具。