帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
NI CompactDAQ平台新增19種I/O模組
 

【CTIMES/SmartAuto 劉筱萍報導】   2007年03月20日 星期二

瀏覽人次:【900】

美商國家儀器(National Instruments,NI)宣佈,NI CompactDAQ I/O模組數量提高將近三倍,為這套以USB為基礎的模組化資料擷取系統增加數種重要的量測及功能。此外,每一部NI CompactDAQ機箱皆附贈新推出的NI LabVIEW SignalExpress資料記錄軟體,在不需要程式設計的互動環境中提供工程師快速擷取、分析和資料呈現的功能。新的軟體選擇和廣泛的I/O模組為工作檯、工作場所及生產線上的電子和感測器量測提供一個簡單、完整,且功能強大的資料記錄解決方案。

NI CompactDAQ提供使用簡便的USB介面,可與PC連接,並將感測器的連接功能、信號處理,以及類比轉數位的轉換功能結合在由使用者設定組態的單一系統中。現在,工程師和科學家在建立系統時,有十九種新的模組選項,包括±20 mA電流I/O;高速、高電壓及通道對通道隔離類比輸入;RTD感測器輸入;以及高密度數位I/O,還有通用型輸入模組。所有模組皆可熱插拔,並具備內建隔離功能,以確保系統和使用者的安全。

關鍵字: NI  測試系統與研發工具 
相關產品
簡化5G PA驗證 MaxLinear與NI整合射頻演算法與IC測試軟體
NI 發表 LabVIEW NXG 的新功能 推出快速、靈活且適用於網路的功能
NI推出滿足5G NR研究與系統原型製作的全新mmWave Radio Head
NI擴充RFIC測試功能以因應NB-IoT與eMTC標準
NI 推出Sub-6 GHz 5G新空口參考測試方案
  相關新聞
» 安立知助村田製作所開發USB 3.2雜訊抑制解決方案
» 是德科技加入AI-RAN聯盟 推動行動網路人工智慧創新技術
» 是德科技協助SGS執行Skylo非地面網路認證計畫所需測試
» 是德科技獲百佳泰選為測試合作夥伴 加速進行Thunderbolt 5產品認證
» R&S加入AI-RAN聯盟 利用測量專業釋放AI無線通訊領域潛力
  相關文章
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協
» 迎接數位化和可持續發展的挑戰

刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.1.HK87SAX78KCSTACUKO
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw