摘要
工程师原本都是使用向量网络分析仪(VNA),来对相位数组天线中的发射/接收模块进行振幅与相位量测。近来制造技术的改良,使得更具弹性且功能更强的发射/接收模块得以大量生产。
然而校验与特性分析却形成制造瓶颈,因为完整的相位数组天线可能包含无数个T/R模块,以及来自数组组件的多个射频输出信道。以所需搜集的数据数量来看,对测得的复杂数组进行校验的时间得长达好几天或好几个星期。为了缩短测试时间,必须采用完全不同的方法。
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