高頻Probe（探棒）的頻寬測試，在前一期（138）文章中提過了。既然高頻Probe的頻寬如此高，所以在量測高頻信號時，只要Probe Tip接觸待測電路的結構有問題就會影響到真正的信號量測。在以前Probe的頻寬不是很高時，不會注意到Probe附件的重要性，現在的Probe頻寬已高達GHz，Probe附件的正確使用已經是不容忽視的課題了。本文會對影響高頻Probe量測的原理與高頻Probe附件的應用詳細說明，雖然只是舉Tektronix的Probe為例但是應用原理是放諸四海皆準的。
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