新思科技(Synopsys)宣布推出PrimeYield,是该公司最新且功能完备的design-yield analysis套装工具,能够在设计早期对於制造上的问题进行自动化的矫正。PrimeYield可精确预测design-induced mechanisms对於良率的威胁,而且把automated correction guidance提供给上游的设计执行工具。PrimeYield之中的lithography compliance-checking(LCC)模组与IC Compiler 解决方案可以紧密的连结,为65奈米与更小的晶片设计遇到的litho-related issues,提供迅速的detection与correction。
东芝半导体公司(Toshiba Corporation Semiconductor) 系统晶片设计部门(System LSI Design Dept)的资深经理Yukihito Oowaki 表示,「设计团队的生产力对於我们极为重要。新思科技的PrimeYield LCC提供了自动化与有效的方法给我们检查lithography problems,而且提供指引给我们的配置与绕线(place-and-route)环境 ━ IC Compiler。我们对於新思科技PrimeYield LCC技术的效率与精确度备感振奋,而且会把它布署到我们的standard layout flow里」。
PrimeYield让设计业者能够预览会影响到65奈米与65奈米以下节点的manufacturability相关问题。PrimeYield以三项核心模组处理这些问题:LCC、model-based chemical-mechanical polishing (CMP)检查、以及关键区域分析(CAA),让设计业者在tapeout之前进行更正与修改设计。
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