Anritsu安立知，宣布国立台湾大学光电工程学研究所采用Anritsu安立知领先市场的MS2850A系列的频谱分析仪/讯号分析仪平台，成功应用於垂直共振腔面射型雷射（Vertical-Cavity Surface-Emitting Laser；VCSEL）测试，并且搭载与台大光电所吴肇欣教授团队共同开发的自动测试软体，进行雷射相对强度杂讯（Relative Intensity Noise；RIN）的验证，为VCSEL元件开发提供自动测试方案，并将持续合作共同推动VCSEL产业发展。

台湾大学与安立知共同开发 RIN 自动测试验证系统

由於光发射元件的发展突飞猛进且其性能优劣将会直接影响到数位及类比光通讯系统的整体效能，RIN叁数评估的重要性也将与日俱增。随着光纤传输系统朝向高速与多模发展，在高性能、多波长及高集成度雷射的评估中，如何快速完成RIN特性的量测将是一大挑战。

MS2850A讯号分析仪是一款高阶的讯号与频谱分析仪组合，可支援频率范围为9 kHz至32 GHz或44.5 GHz，其具备卓越的动态范围、振幅与近端相位杂讯性能，精准的平均显示杂讯位准（DANL）适用於高速光电子元件的微小杂讯量测。藉由多种波长的光电转换器选择，可以实现全频域 RIN 快速精准量测的目的。

台湾大学光电所吴肇欣教授表示：「大数据与生物感测需求迫在眉睫，刺激光通讯与3D感测导入VCSEL速度不断加快，Anritsu安立知不仅提供了完整且稳定的测试平台，同时也有优秀的技术人员，协助我们的团队共同开发RIN自动测试验证系统，并且成功运用於VCSEL测试，期许未来持续合作以因应广泛的雷射应用量测需求。」

Anritsu台湾区总经理陈逸桦表示：「很高兴国立台湾大学持续信赖Anritsu安立知通讯设备的先进技术，这次的合作由国立台湾大学光电工程研究所提供计算原理及量测架构，与Anritsu安立知工程部和软体部门共同开发完成RIN的自动量测方案，除了采用 MS2850A/MS2840A/MS2830A系列讯号分析仪外，也整合相关的量测设备，大幅缩短产品测试验证时间，使得RIN的测试更为快捷便利。」