美商安可科技(Amkor Technology)引进最新RF器件测试系统，有效地把测试时间减少达80%。此系统主要以一个基础软件优化标准工业工具系统来缩短测试时间。例如为双频功率放大器(PA)的RF测试，使用一般的ATE测试仪通常需要1.8秒，但采用安可的全新测试方案只需470毫秒(ms)。低噪声放大器(LNA)以一般ATE测试器进行测试需1.3秒，新系统只需170ms。新系统除了缩短测试时间，购置成本亦远比其他同类型产品为低。

据安可全球测试服务部副总裁Joe Holt表示安可一直致力为客户提高技术质素的同时不断减低成本，新设备正好具备这些条件，在一些情况下，测试时间和成本减少能令整体测试成本下降80%。

除了上述的LNA和PA，新系统亦可用作高量测试如混合器、RF开关、相位同步回路和电压控制发生器等。而根据业内市场分折机构IC Insight表示，2004年所有无线和流动通讯器件包括基站和转换系统市场将增加一倍。

安可为所有半导体技术范围提供全面的测试开发和高量产服务，并于美国加州圣荷西、肯萨斯州Wichita、阿里桑拿Chandler、韩国、日本和菲律宾设有测试开发中心，并不断扩充中国大陆和台湾的设备供应。