美商国家仪器(National Instruments,NI)将于五月八日在因特网上举办第四届自动化测试高峰会(Automated Test Summit 2007)，此次技术研讨会，将着重在未来的趋势探讨，以及超越自动化测试的新挑战。网站上的内容将提供九十天的随选即播功能。在免费的全天研讨会中，与会者可检视主题展示、观赏技术研讨会、参与现场问答讨论区、以及在展示区中与厂商互动。

「NI每年皆与技术领袖以及ATE供货商合作，主办自动化测试高峰会。在会中，我们将呈现最新的测试策略和技术，以处理顶尖电子制造厂商的测试工程师和资深经理所面对的挑战。」NI自动化测试产品经理Kevin Bisking表示。「为了使工作负荷越来越重的工程师更容易参加研讨会，今年NI在在线主办这次的研讨会。工程师可以用自己最方便的方式，了解测试开发的最佳实务范例。」

微软(Microsoft)、英特尔(Intel)、太克(Tektronix)、Averna以及BAE Systems等公司的代表皆将于研讨会中分享他们的技术专业知识及最佳的实务方法。NI事业和技术部门Mike Santori将以：「开发新一代测试系统」作为他的演讲主题。德州仪器(Texas Instruments)自动化基本架构经理Marvin Landrum则负责下午「开发通用测试程序策略」主题演讲。

此次技术研讨会包括，如何采用通用测试系统技术来降低成本；使用新一代技术提升系统效能；如何制定、开发通用测试程序的策略以及将新量测加入测试系统的最佳实务方法等四大主题。