安捷倫(Agilent)將於四月十日假新竹喜來登大飯店舉辦2012元件測試與應用技術論壇，邀集學術先進、多家知名量測設備領導供應商，與安捷倫國內外的專家們共同主講八個講題，並安排八個不同主題的實機展示，以饗顧客。

元件技術及半導體科技的進步推升了近來平板與智慧型手機、高速無線通訊及數位傳輸晶片、綠色節能產品以及雲端應用的蓬勃發展，並得以延伸到資通訊產品以外諸如生醫化學等多項應用。

因此本年度元件與測試應用技術論壇，邀請成大電機所的莊惠如教授主講MM-wave Life-Detection System (MLDS) and Related Radio-on-Chip (RoC) Development；與中山大學電洪子聖教授主講 Green Radios for Cognitive Sensors and Doppler Radars。

同時，還有以產業關注的主動與背動元件的測試挑戰、DC及RF參數量測、如何降低雜訊影響完成更精確的RF/uW 信號量測、低頻至高達500GHz的on-wafer量測及探針方案、高速連接介面之信號完整性量測方案， 1/f on-wafer量測及元件建模解決方案等。

安捷倫最受歡迎的實機展示包含了： 無線通訊信號分析、EEsof EDA及模組式量測方案、元件量測及系統組件 、高速數位量測、康思德精密科技的晶圓探測先進技術、思達科技的半導體及功率元件參數量測，以及各種工程師需求的綜合量測方案。

安捷倫的活動報名至四月九日為止，請直撥安捷倫的免付費的080047866指名代號『019827』，或請上網到www.agilent.com.tw/find/events 直接送出報名表。