账号:
密码:
最新动态
产业快讯
CTIMES/SmartAuto / 新闻 /
电源光学晶圆测试一把抓 PXI模块百变现身
产服部特别企划制作

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2011年05月27日 星期五

浏览人次:【9654】

美商国家仪器(NI)第八届大中华PXI技术与应用论坛5月18日于台北六福皇宫盛大登场。来自不同产业界的代表厂商,在现场人潮汹涌的实际应用展示区内,百花齐放地呈现了以PXI模块化仪控设备和LabVIEW软件为核心、有效提升自动化测试效能的最新成果。从电源供应、光学镜头到LED晶圆生产设备,NI的PXI模块化软硬件平台扮演着举足轻重的关键角色。

图一 NI PXI论坛现场人潮络绎不绝

在电源组件自动化测试部份,固纬电子示波器研发事业处项目襄理曾元佑表示,以往单一PXI仪控设备所能够消耗的功率限制在25W之内,若待测物需要用到大瓦特数时,便必须搭配一般传统的量测仪器,因此设计弹性就受到限制。固纬电子便藉由NI软件定义的PXI模块化平台价值为核心,扩充测试大瓦特数电源转换器待测物的能力。为突破以往中低阶量测仪器供货商的市场定位,固纬电子以上述概念作为出发点,与NI合作设计出开放式模块化电源测试系统,强化了工业和消费电子应用电源转换器的测试能力。

这款模块化电源测试系统中,NI主要提供操作接口、示波器和电表卡板、以及耐高压转换总线,其余则是由固纬电子所衍生开发。为了降低客户使用的门坎,在默认版本内就先删除PXI控制器简化功能的角色。至于软件部份则是采用NI的测试管理套件TestStand,以此为基础开发出其他LabVIEW测项功能,大部分软件平台也是由NI所提供。藉此固纬电子设计出一套可支持工业用计算机和消费电子产品等电源自动化测试、并能提供相关服务的原型平台。

图二 固纬电子示波器研发事业处项目襄理曾元佑

另一方面,在光学透镜检测部份,国家实验研究院仪器科技研究中心先进电子系统制作厂助理研究员陈永祥指出,消费电子产品搭配的光学镜头,需要经过严谨的偏心检测作业。藉由PXI模块平台的辅助,影像式光学透镜模块的偏心检测机台,光轴中心和几何中心两点运算的偏心量就能更为精确地检测出来,且能进一步提高外围扩充功能和指令周期,比起传统机械式绕圆的检测方式,更能提高效率和精确度,从2~3分钟大幅缩减数秒即可。

图三 右为国家实验研究院仪器科技;左为研究中心先进电子系统制作厂助理研究员陈永祥

此外在LED晶圆测试领域,PXI模块化平台更扮演不可或缺的角色。亚克先进系统部经理林世芳和顺英有限公司萧顺中表示,现场展示的6吋LED晶圆测试设备,整合顺英的电光测试机以及亚克先进的移动控制机台,测试机除采用NI PXI SMU模块之外,整座机台亦涵盖NI在电性、马达、影像视觉、I/O接口、LabVIEW等软硬件功能,可支持高速、低噪声、稳定而精确的量测质量。6吋LED晶圆测试设备可同时进行垂直4点LED探针测试,并可兼顾波长检测项目,不仅能大幅提高检测产能,更可大幅降低无尘室生产线的建置成本,是台湾自主开发的LED软硬件检测平台。

图四 右为亚克先进系统部经理林世芳;左为顺英有限公司萧顺中

關鍵字: 模組化儀控設備  NI  仪器设备 
相关新闻
棱研与NI联合发表毫米波通讯原型设计解决方案
低轨卫星产业成新蓝海 NI联合众执芯提供测控数传新思路
NI发布最新软体优化测试工作流程
益莱储与NI合作出租自动化测试解决方案 为亚太客户提供灵活性选择
NI台湾於2022年3月正式进驻台北101
comments powered by Disqus
相关讨论
  相关文章
» 最隹化大量低复杂度PCB测试的生产效率策略
» 确保装置互通性 RedCap全面测试验证势在必行
» ESG趋势展??:引领企业迈向绿色未来
» 高阶晶片异常点无所遁形 C-AFM一针见内鬼
» 高速传输需求??升 PCIe讯号测试不妥协


刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BQAM4PWMSTACUKN
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw