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安捷伦射频信号分析巡回研讨会即将展开
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2009年09月30日 星期三

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安捷伦科技将于10月13,14,15日分别假台大,交大及成大举行射频信号分析研讨会,发表三篇最实用的技术报告,包含「将频谱/信号分析仪的性能发挥到极限」、「如何避免射频设计的灾难」、「Agilent 89601A 向量信号分析简介与疑难解析」,同时以实机示范量测。

无线通信技术的发展日新月异,除了要解决日亦严重干扰问题,信号本身的复杂度也相对提升。从早期单纯的数字调变、多重存取技术,到正交分频多任务(OFDM)与多重输入与多重输出技术(MIMO),大大提升射频数据传输速率,也增加的射频电路设计挑战与基频电路的处理速度。

安捷伦表示,会中将由业界首屈一指的量测专家 ,介绍如何正确的使用手中的频谱/信号分析仪,及将其功能发挥到极限,不论是极小接近噪声的信号,或需要更大的动态范围来量测的高输出功率,都将手到擒来;也将以应用实例,指引如何避免射频设计上的灾难。对于从事射频微波通讯电路及射频通讯系统整合的工程师帮助很大。活动免费,座位有限,欢迎即刻上网到:http://210.244.49.188/event/MC20505/index.asp 或电洽安捷伦客服专线:0800-047-866,代号MC20505。

關鍵字: 射频信号分析  频谱分析仪  信号分析仪  OFDM  MIMO  Agilent 
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