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Tektronix以新型IMS互操作性测试套件现身IMS论坛
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2007年03月05日 星期一

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通讯网络管理和诊断解决方案厂商Tektronix,宣布IMS论坛(IMS Forum)在一月举办的第一届IMS应用与服务插拔大会(Plugfest)中,以其新型IMS互操作性测试套件,成功的评估厂商的IMS执行成果。

Tektronix的IMS测试套件,在G35功能测试平台上进行测试,仿真IMS终端装置,以评估参加IMS厂商的执行成果。这组测试套件是由超过100个挑选过的测试个案所组成,测试个案经过周密设计,将焦点放在复杂且可能造成互操作性问题的程序上。抽象测试套件执行是根据TTCN-3(Testing and Test Control Notation version 3,测试和测试控制表示法第三版),为测试个案定义及语言的全球开放式标准。

使用测试个案套件容许高度的测试自动化、提高IMS装置的效率及系统测试活动,同时大幅缩短测试时间(产品上市时间)并大幅降低测试成本。透过 Tektronix的G20/G35分析软件,撷取并译码所有的测试流量,能够快速隔离失败测试状态的根本原因。

關鍵字: Tektronix 
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