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巨有与致茂合作 突破IC测试技术瓶颈
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2011年03月10日 星期四

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巨有科技(PGC)近日宣布,己与致茂电子(Chroma)展开紧密合作。巨有选购致茂的Chroma 3650平台,以提供其消费型电子产品及其他装置的工程测试使用。Chroma 3650配备完整的测试模块,如逻辑模块、ADC/DAC模块、ALPG内存模块、高电压电流模块和SCAN模块,可大幅降低产品原有的工程开发及量产测试成本。

Chroma 3650测试机台
Chroma 3650测试机台

巨有科技表示,随着SoC奈米化,除了使IC的设计难度提高以外,IC测试及验证工作也往往比IC设计开发更花费时间,在IC产品测试部份则相对增加其技术难度及所需的成本。因此,如何有效协助顾客解决及突破IC测试方面的技术瓶颈,成为现今IC设计厂商要面对的重要课题。巨有选购Chroma 3650平台,使其具备高产能及多功能的晶圆片和封装成品测试能力,以适应目前对价格日益敏感的市场变动及需求。

關鍵字: 巨有  致茂 
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