致茂电子光电仪器事业部于12/ 14于林口厂举办之"LED量测技术"研讨会。由该事业部副总经理冯清章先生主持，并特请工研院量测中心仪器发展组田立芬研究员主讲" LED光学特性与量测规范"。最后由该事业部实机展示新发表之7630 LED自动测试系统。其中演讲大纲涵盖有LED光源特性、光辐射学、亮度学与色度学简介、LED量测规范、量测设备介绍与比较等内容。

会中参与人员针对LED之旋光性与电性量测及自动化质量管理，均有广泛而深入的探讨。其中特别对Chroma 7630依据「国际照明协会」(CIE)规范之LED量测标准设计开发，并能以每颗LED 0.18秒的快速量测速度进行生产线自动化量测及质量管理分析，有详尽的说明及现场实际操作解析。国内各大LED制造商的与会人员皆对该产品有深刻的印象，并对其功能给予十足的肯定。是以可预期在Chroma 7630正式进入市场后，必定能为各LED厂商大幅提升制程良率及作最有效的自动化质量管理，以提升台湾厂商于国际市场的竞争力。

致茂电子光电仪器事业部愿景，系成为世界级光/ 色及影像量测仪器及系统之提供者。开发之产品除LED自动测试系统外，尚包括了LCD、OLED、CRT色彩分析仪、CIS自动检测系统、Front Projector自动测试系统以及各型实体影像显微检视仪。此次的研讨会充分说明了致茂电子在光及色彩的量测方面所拥有的实力及其协助相关制造厂商质量管理提升良率的贡献。