致茂电子半导体测试设备事业部日前表示，为因应半导体产业蓬勃发展所需大量测试需求的发展，该事业部提供客户在量测上完整的解决方案。己成功开发出的记忆体测试产品线，提供记忆体模块厂生产在线快速、准确的检测。目前正积极开发per-pin架构为主，工作频率达50MHz的逻辑IC测试系统，具有精准、快速、平行测试测试等特色，帮助客户提高生产效率，降低成本。未来更将进一步开发混合讯号测试功能，以符合SOC之发展需求。同时引进Hitachi70/140MHz之逻辑IC测试系统，提供中高阶逻辑IC的完整测试解决方案。在特殊材料事业部与日铁微金属(NMC)技术合作，所生产之金线符合细线化、长跨距和窄幅距等最新焊线技术，钖球则具有高需疲乏性、低幅性等特性，可满足客户对BGA、CSP等封装材料的需求。致茂电子半导体测试设备事业部并且表示，此次配合2001年台湾半导体设备暨材料展的举办，该公司将于9月17~19日期间，于台北世界贸易中心展览一馆（摊位编号2938）展出半导体量测仪器相关之测试系统仪器海报及提供半导体封装用的金线与钖等。