Tektronix为DSA8300取样示波器推出了两款新型光学模组，这些产品具高灵敏度和低杂讯，不仅可为制造商提高生产能力，同时也能提高400G设计投入产量的信心。Tektronix并宣布透过针对高输送量制造测试的四通道平行处理最隹化处理的软体套件，增强对最新400G PAM4 TDECQ量测的支援服务。

随着400G投入生产，Tektronix 推出适用於 DSA8300 取样示波器的全新光学模组。

全新的模组和功能及全套 Tektronix 100G/400G 光学表性分析和验证解决方案即将在 OFC 光学网路和通讯会议以及本周在加州圣地牙哥 (San Diego) 举办的展览会上展示。Tektronix 亦在活动中为其 DPO70000SX 即时示波器推出了全新的 56 GBd 单模光学探棒。

Tektronix高频通讯总经理Sarah Boen表示：「随着400G设计进入生产阶段，我们的客户正在寻找改善制造良率和测试成本的方法，这一切都始於对测试结果的信心，以及快速、准确地区隔良莠组件的能力。凭藉业界最低的杂讯和最高的灵敏度，我们的解决方案提供了可改善光学组件和互连产品的产量和输送量。」

当安装在 DSA8300 取样示波器中时，适用於56 GBd PAM4和NRZ的全新80C20 和80C21光学模组将可提供具有9 μW光学杂讯的业界最隹杂讯效能。双通道80C21使光学制造测试工程师能将输送量和容量加倍。若装置发生故障，Tektronix提供了一套全面的增强型PAM4分析工具来分解讯号内容以获取杂讯和抖动，能有效协助工程师了解潜在的问题。

为了满足资料中心对更大频宽的需求，光学产业正迅速转向400G和PAM4。然而，由於较低的讯号杂讯比、降低的讯号振幅以及测试次数增加10倍以上等因素，生产工程师面临了如何针对每个装置保持低测试成本的挑战。以Tektronix DSA8300为基础的取样解决方案凭藉业界最高的频宽、最高的灵敏度和缩短的测试时间，将有助於降低测试成本。