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Tektronix新款全方位测试仪 适用DDR3内存
 

【CTIMES/SmartAuto 劉筱萍报导】   2008年04月07日 星期一

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Tektronix宣布推出DDR2与新DDR3技术适用的全方位测试工具组。DDR3是新一代双倍数据传输速率(Double Data Rate,DDR)同步动态随机存取内存(Synchronous Dynamic Random Access Memory,SDRAM),能提供更高效能的数据传输速率。Tektronix DDR测试解决方案支持各种速度的DDR、DDR2和DDR3,Tektronix为工程界客户提供一套完整的DDR3测试工作台。

DDR3标准支持每秒8 M至1600 MT数据传输(MT/s),频率各为400 MHz至800 MHz,速度是DDR2技术的两倍。DDR3适合于需要高效能的应用,例如:文件服务器、随选视讯、编码与译码、游戏、3D可视化等等。

在数字验证与除错方面,TLA7000逻辑分析仪与全新的TLA7BB4讯号撷取模块,提供唯一有用的逻辑分析解决方案,能满足DDR、DDR2和DDR3(包括DDR3-1600)等所有速度的需求。此外,与现有方案相比,这款新型DDR测试仪,还可节省高达30%的成本。TLA7BB4与Nexus Technology的DDR3/DDR2通讯协议违规监测软件共同运作,会自动分析DDR2或DDR3总线,轻易迅速地辨识出通讯协议违规情形与频率,并于逻辑分析仪内存中提供所有DDR命令的整体检视。TLA7000系列具备内存支持与探棒解决方案,是功能最佳的数字验证与除错解决方案。使用以TDR为基础的讯号路径特性分析与电路板验证之DSA8200取样示波器,就可执行实体链接分析。

而在模拟验证与除错方面,数字序列分析仪DSA70000系列产品中的全新DDR分析选购配件(opt.DDRA),搭配符合的P7500 TriMode主动差动探棒与DPOJET量测软件,能提供强大的除错工具组,自动辨识读取与写入,并执行Clock(频率)、Jitter(抖动)、Amplitude(振幅)、Timing(时序)及Eye Diagram(眼状图)量测。P7500系列的新型DDR探棒头,可连接到待测装置上难以接触的位置。

關鍵字: 文件服务器  随选视讯  編碼與解碼  遊戲  3D可视化  Tektronix  通用设备 
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