账号:
密码:
最新动态
产业快讯
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
DEK与专家合作以提升SMT组装的制程水平
 

【CTIMES/SmartAuto 賴孟伶报导】   2006年11月14日 星期二

浏览人次:【2494】

DEK公司强化了该公司与业界的视觉技术专家之合作,并在最近完成了一项锡膏检查开发计划。

这项合作计划把DEK锡膏印刷机的事件数据(event data)与锡膏检查系统的印刷后检查及SPC报告相整合。将这些不同角度的制程数据规格互相结合后,可以让设备用户实时查明与锡膏有关的印刷问题,并且将关键性的印刷参数优化,以提升制程的可靠度和运作效率。

藉由与Orbotech、CyberOptics和Koh Young等锡膏检查厂商之合作,DEK已计划执行进一步的部署,以便对技术和制程进行改善,来提升长期印刷质量控制的量测精度。

透过这些努力,DEK的机器视觉合作计划将持续为SMT组装设备的终端用户提升附加价值。在这项最新的计划中,DEK为操作者提供了更好的可见度,协助设备用户可以更方便地实时解读数据、更迅速地作出决策,从而保持或增进整体制程的一致性。

關鍵字: DEK  其他仪器设备 
相关产品
DEK全新RTC快速输送轨道技术 可缩短印刷工时
DEK推出自动化CAD平台
DEK全新Horizon APi机器问世
DEK全新工具 实现25μm晶圆背面涂层制程
DEK于Nepcon South China展示其新型机种
  相关新闻
» Anritsu Tech Forum 2024 揭开无线与高速技术的未来视界
» 安立知获得GCF认证 支援LTE和5G下一代eCall测试用例
» 资策会与DEKRA打造数位钥匙信任生态系 开创智慧移动软体安全商机
» 是德科技推动Pegatron 5G最隹化Open RAN功耗效率
» 是德科技PathWave先进电源应用套件 加速电池测试和设计流程
  相关文章
» 最隹化大量低复杂度PCB测试的生产效率策略
» 确保装置互通性 RedCap全面测试验证势在必行
» ESG趋势展??:引领企业迈向绿色未来
» 高阶晶片异常点无所遁形 C-AFM一针见内鬼
» 高速传输需求??升 PCIe讯号测试不妥协

刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BN7C64OCSTACUK0
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw