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NI 将参展 2012 台北国际光电大展
 

【CTIMES/SmartAuto 报导】   2012年06月11日 星期一

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美商国家仪器(NI)将于 6/19(二)~6/21(四) 参加 2012 年台北国际光电大展。此次参展, NI 将针对研发验证到实际产线测试端,所需要的各种不同目的与需求,提出相对应的解决方案。展会现场, NI 同时将展出 LED 多点测试机台,展现 NI 产品于光电产业的高适用性。

以 LED 产业为例,NI 完整的模块化仪器产品线,能帮助客户建置客制化的测试设备,完整满足 R&D 端验证测试的需求,同时利用 PXI 平台高弹性的优势,搭配 Switch 模块,以及 TestStand 高效能自动排程软件,即可将测试功能转移到产线,进行快速生产测试。也因此从研发验证测试到产线测试,NI 一直以来都是客户最佳的选择。

NI 欢迎所有业界先进在台北国际光电大展期间到 NI 摊位 (K 306) 一起共同切磋、讨论,更期待能因为 NI 的方案,协助客户迈向成功。

關鍵字: NI 
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