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【CTIMES/SmartAuto 林佳穎报导】   2011年09月19日 星期一

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美商国家仪器(NI)于日前宣布,已再度扩充其PXI平台的功能,以新款Per-pin Parametric Measurement Unit (PPMU) 与电源量测单位模块,用于半导体特性描述与生产测试。NI的 PXIe-6556 - 200 MHz高速数字I/O具备PPMU;NI PXIe-4140与NI PXIe-4141 - 4信道SMU可降低设备成本、缩短测试时间,并提生混合式讯号的弹性,可测试多款装置。

NI表示,PXIe-6556高速数字I/O模块,可达最高200 MHz而产生/撷取数字波形;或于同一针脚上,以 1% 误差之内执行DC参数量测,可简化接线作业、减少测试次数,并提高测试器密度。此外,其内建的时序校准功能可自动调整时序,可降低不同连接线与线路长度所造成的时序歪曲,亦可降至最低。NI PXIe-6556亦可选择是否以其他NI SMU切换,以达更高精确度。工程师可根据硬件或软件触发器,进而触发参数量测作业。

该公司并进一步表示,PXIe-4140/41 SMU模块可于各PXI Express插槽,提供最多4个SMU信道;而4U机架高度的单一PXI机箱可达最多68个SMU信道,以轻松测试高针脚数的装置。透过1秒可达最多600,000样本的取样率,工程师可大幅减少量测次数,或撷取重要的瞬时特性参数。此外,NI PXIe-4141具备新一代的 SourceAdapt技术,让工程师可根据任何已知负载而微调SMU输出,达到最高稳定度与最短瞬时期间。

關鍵字: PXI  NI 
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