账号:
密码:
最新动态
产业快讯
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
Tektronix为PCIe 3.0测试解决方案提供更多功能
 

【CTIMES/SmartAuto 报导】   2011年01月10日 星期一

浏览人次:【3086】

Tektronix近日宣布,针对最完整的PCI Express 3.0解决方案推出新功能。这项新的方案可使用Tektronix DPO/DSA/MSO70000系列示波器,进行物理层发送器(Tx)的验证、除错、特性分析与兼容性测试。藉由此项新功能的推出,Tektronix现在提供了PCI Express最广泛而完整的一组物理层与协议层量测功能。

Tektronix为PCIe 3.0测试解决方案提供更多功能
Tektronix为PCIe 3.0测试解决方案提供更多功能

PCIe 3.0架构提供低成本的高效能I/O技术,包含新的128b/130b编码机制与8 GT/s 的数据率,将PCIe 2.0的互连带宽倍增。PCIe 3.0沿用与前代规格相同的电路板材料(FR4)和接头,由于因应信道中讯号损失增加所需的更小边际和新的抖动量测,这项规格也带来了更加困难的测试挑战

新的Tektronix PCIe 3.0解决方案(选项 PCE3)承续了PCIe Gen 1与Gen 2测试解决方案的成功经验。若搭配串行数据链路分析(SDLA)软件,即可提供完整的解决方案,用来验证PCIe 3.0设计的发送器与信道效能,并同时支持PCIe 3基本规格与CEM规格量测。

關鍵字: Tektronix 
相关产品
Tektronix全新远端程序呼叫式解决方案从测试仪器迅速传输资料
太克4系列B混合讯号示波器 提供更快分析和资料传输速度
Tektronix推出增强型KickStart Battery Simulator应用程式
Tektronix宣布推出全新TMT4边限测试仪 简化并加速PCIe测试
Tektronix PCI 6.0接收器测试解决方案 满足下一代高效能需求
  相关新闻
» Tektronix电源仪表新突破 协助客户在日益电气化的世界快速创新
» Anritsu Tech Forum 2024 揭开无线与高速技术的未来视界
» 安立知获得GCF认证 支援LTE和5G下一代eCall测试用例
» 资策会与DEKRA打造数位钥匙信任生态系 开创智慧移动软体安全商机
» 是德科技推动Pegatron 5G最隹化Open RAN功耗效率
  相关文章
» 最隹化大量低复杂度PCB测试的生产效率策略
» 确保装置互通性 RedCap全面测试验证势在必行
» ESG趋势展??:引领企业迈向绿色未来
» 高阶晶片异常点无所遁形 C-AFM一针见内鬼
» 高速传输需求??升 PCIe讯号测试不妥协

刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BP8K97ZGSTACUKB
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw