美商国家仪器（NI）发表首款PXI电源量测单位（SMU），与高密度的PXI切换器。这些产品可提升精确DC应用中的PXI平台效能，如半导体参数测试，与电子装置的检验作业。与传统仪器相较，工程师可搭配使用这些低价位的小型模块，于高针脚数装置中进行电压与电流参数的精确特性记述（characterize）作业。

PXI SMU

NI PXI-4130具有单一的隔离SMU信道，包含4象限的±20 V输出，并整合远程（4线式）感测。此信道可于象限I与III源极（Source）最高40W，并于象限II与IV汲极（Sink）最高10W。PXI-4130 Power SMU具有额外的电源供应信道，适用于电压/电源供应与回读（Readback）功能，并可于单一PXI模块上整合SMU与电源供应。透过5组电流范围所提供最低1 nA的量测分辨率，PXI-4130 Power SMU为精确的仪器组合，适用于需要电压/电流程序化源极与扫瞄作业的测试与设计检验应用。

NI PXI-2535与PXI-2536超高密度模块具有544个交点–亦为单一3U PXI插槽的最高矩阵密度。PXI-2535设定为4x136的单线式矩阵，而NI PXI-2536设定为8x68的单线式矩阵。切换器模块是以场效晶体管（FET）技术为基础，其所具有的新优点包含极长的机器使用寿命、无限的同步链接功能，与最高每秒50,000个交点的切换速度。这些功能让切换器成为高本益比的解决方案，可于检验并测试如半导体芯片的量产装置时，传输低功率的DC讯号。新的切换器并可搭配使用NI切换执行（Switch Executive）的切换管理软件，以进行简单设定并再使用相关程序代码。

SMU与高密度切换器可构成多种PXI仪器，并用于半导体装置的检验作业，包含高速数字装置、混合讯号仪器，与RF设备。当整合至PXI系统时，这些仪器可同时针对架构性与功能性的半导体检验作业，以建立高弹性的解决方案，并适用于一般的电子组件特性记述（Characterization）作业。这些产品亦可搭配NI TestStand测试管理软件、NI LabVIEW图形化开发环境、NI SignalExpress、NI LabWindows/CVI，与NI Measurement Studio。